Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів»



Сторінка5/7
Дата конвертації17.04.2017
Розмір1.16 Mb.
ТипНавчальний посібник
1   2   3   4   5   6   7

Спектральні методи дослідження

Якщо сонячне проміння або світло від електричної лампи скерувати крізь щілину на призму і далі на екран, то на екрані з'явиться райдужна смуга, яка складається з семи чистих кольорів, що плавно переходять один у другий. Набір цих кольорів відповідає усім довжинам хвиль видимої ділянки електромагнітного спектра і його називають суцільним спектром (рис. 1.1, а). Якщо ж джерелом світла буде розрядна лампа, в яку вміщено певну речовину в газоподібному стані, то на екрані з'явиться спектр іншого типу, який складається з окремих ліній різного кольору на чорному тлі. Такий спектр називають атомним спектром випромінювання (емісії), або лінійчатим спектром (рис. 1.1, б). Спектр випромінювання можна отримувати від будь-яких речовин, якщо у той чи інший спосіб збуджувати речовину, наприклад, за допомогою електричного розряду або нагріванням речовини в полум'ї. Атомні спектри випромінювання містяться у видимій та ультрафіолетовій ділянках електромагнітного спектра. Так, якщо в полум'я пальника внести натрій або його сполуку, то випромінюватиметься світло з довжиною хвилі 5900 А і полум'я забарвлюється у жовтий колір, а, наприклад, колір світіння водню — у червонувато-рожевий. Окрім емісійних спектрів, можна отримувати спектри поглинання, якщо пропускати крізь речовину біле світло, яке містить усі довжини хвиль у видимій ділянці електромагнітного спектра.





Рис. 1.1. Схематичне зображення виникнення суцільного (а), емісійного (лінійчатого) (б) та спектра поглинання (в): 1 — пучок світла; 2 — щілини; 3 — призма; 4 — екран; 5 — суцільний спектр; 6 — газорозрядна лампа; 7 — лінійчатий спектр; 8 — лампа з розжареною парою речовини; 9 — спектр поглинання.

Світло певних довжин хвиль поглинається речовиною, і на тих самих місцях, де в емісійному спектрі цієї ж речовини були кольорові лінії, у спектрі поглинання з'являться чорні смуги (лінії) на тлі суцільного спектра (див. рис. 1.1, в). На відміну від атомних, молекулярні спектри поглинання значно складніші. В атомних же спектрах енергія поглинутого електромагнітного випромінювання витрачається винятково на збудження електронів в атомах. Поглинута ж молекулами енергія не лише збуджує електрони, а й викликає коливання та обертання груп атомів у молекулі. Електрони в молекулах збуджуються ультрафіолетовим (УФ) промінням та видимим світлом, коливання атомів у молекулі — інфрачервоним (14) промінням, а обертання — мікрохвильовим випромінюванням (рис. 1.2).



Оскільки будь-яка речовина містить електрони, всі речовини поглинають ультрафіолетове або видиме випромінювання певної довжини хвилі. Через це ми бачимо речовини забарвленими. Якщо для збудження електронів потрібна дуже велика енергія, яка відповідає ультрафіолетовій ділянці електромагнітного спектра (диву рис. 1.2), то речовина видається нам безбарвною. Натомість речовини матимуть дуже яскраве забарвлення, якщо вони поглинатимуть енергію у видимій ділянці електромагнітного спектра. Наприклад, калій хромат (К2СгО4) — яскраво-жовтий, а калій перманганат (КМпО4) — яскраво-пурпуровий. Утім, забарвлення, яке ми бачимо, є доповнюючим щодо кольору поглинутого проміння; доповнюючий колір залишається в суцільному спектрі видимого проміння після того, як з нього виокремлено будь-який спектральний колір. Отже, жовтий колір буде мати речовина, яка поглинула синю ділянку видимого спектра, а пурпуровий — зелену (див. рис. 1.2). Усі органічні та значна частина неорганічних речовин поглинають проміння в інфрачервоній (14) ділянці електромагнітного спектра. В ІЧ-спектрі є багато смуг поглинання, і цей спектр можна використовувати як "відбитки пальців" для ідентифікації певної сполуки. Точна збіжність ІЧ-спектрів двох сполук є свідченням того, що це одна й та ж сполука. Аналіз смуг поглинання ІЧ-спектрів дає змогу отримувати певну інформацію про будову речовин. Оскільки в молекулах атоми сполучені між собою хімічними зв'язками, то, поглинаючи енергію ІЧ-випромінювання, атоми починають коливатися навколо цих зв'язків. Для збудження коливного руху потрібно, щоб випромінювання мало певну частоту, величина якої залежить від того, які саме атоми і як міцно сполучені між собою. Групам С=О, О-Н та іншим групам атомів відповідають характеристичні довжини хвиль поглинання, та їхню наявність у молекулах можна виявити з допомогою ІЧ-спектра. На рис. 1.3 показано деякі типи коливних рухів атомів, сполучених різними хімічними зв'язками, і характеристичні довжини хвиль, котрі відповідають цим коливанням.



На рис. 1.4 зображено ІЧ-спектри двох неорганічних речовин у твердому стані — СО2 і Н2О. На графіку ІЧ-спектри зображають як залежність пропускання світла (у %) від довжини хвилі λ.





Рис. 1.4. Спектр поглинання твердих СО2 (-190 °С) і Н2О (-78 °С) в інфрачервоній ділянці.

Отже, молекулярні спектри містять важливу інформацію про кількісні характеристики хімічних зв'язків у молекулах.



Методи дифракції Х-променів

На явищі дифракції Х-променів (рентгенівського випромінювання) ґрунтується вивчення атомної структури кристалічних речовин. Х-промені — це електромагнітні коливання з довжинами хвиль А, від 1—100 А (див. рис. 1.2), сумірними з міжатомними відстанями у кристалах. Джерелом Х-променів слугує електронна рентгенівська лампа (рис. 1.5). У цій лампі електрони випускаються розжареним катодом (вольфрамовою ниткою чи спіраллю), прискорюються електричним полем і скеровуються на металевий анод. Енергія електронів при їхньому різкому гальмуванні в речовині анода перетворюється на фотони Х-випромінювання. Спектр Х-променів доволі складний (рис. 1.6), він містить поліхроматичну (білу) та монохроматичну (характеристичну) складові. Характеристичне проміння виникає під дією високої напруги (~30—50 кВ), складається з окремих ліній серії Ка і Кр, а довжина хвилі для відповідних спектральних серій визначається природою анода.



У рентгеноструктурному аналізі найчастіше використовують монохроматичне Ка—випромінювання Мо = 0,7107 А), Fе (λ = 1,9373 А), Сu (λ = 1,5418 А), Со = 1,7902 А) або Сг = 2,2909 А), з яких виготовляють анод. Якщо скерувати потік Х-променів на скупчення атомів (на моно- або полікристалічний зразок) (рис. 1.7), то електрони цих атомів взаємодіятимуть з падаючою хвилею, розсіюючи її. Розсіяні (дифраговані) в різних напрямах Х-промені інтерферують (тобто гасять або підсилюють один одного), внаслідок чого виникає інтерференційна картина (закономірно розміщені у просторі рефлекси), характер якої залежить від розміщення атомів у кристалі.



Структура кристалів — тривимірно-періодична. Якщо уявно дробити кристал, то можна отримати певний елементарний багатогранник (рис. 1.8), який зберігатиме всі елементи симетрії і будови вихідного кристала і який втрачатиме ці властивості при подальшому його дробленні. Отже, весь кристал можна розглядати як такий, що складається з однакових закономірно заповнених атомами паралелепіпедів, паралельних один одному, які дотикаються один до одного цілими гранями і щільно заповнюють увесь кристалічний простір. Параметри такого паралелепіпеда, який називають елементарною коміркою кристала, задаються трьома векторними параметрами а, b і с або шістьма скалярними — відтинками а, b і с, відкладеними на відповідних некопланарних осях х, у і 2, та кутами сс, р і у між цими осями (рис. 1.8, б).



У подальшому теорія побудови кристалів з елементарних паралелепіпедів еволюціонувалась до уявлень про просторову ґратку як нескінченну систему вузлів, які утворюють нескінченні ряди плоских сіток (див. рис. 1.8, а). Такі уявлення щодо внутрішньої будови кристалів дали змогу створити теорію кристалічної структури в її сучасному вигляді. Отже, всі кристалічні речовини складаються з атомів, які утворюють кристалічну ґратку, посідаючи місця у її вузлах. Цю ґратку можна розглядати як таку, що складається з серій утворених атомами паралельних площин (плоских сіток), по-різному орієнтованих у просторі. Кількість атомних площин однієї серії нескінченна, як нескінченна й кількість самих серій. Серіям атомних площин приписують індекс hkl (де h, к і l — прості цілі числа).

Дифракцію на кристалах можна інтерпретувати як віддзеркалення Х-променів від системи атомних площин кристалічної ґратки (рис. 1.9). Як відомо з оптики, віддзеркалювання видимих променів від звичайного дзеркала може відбуватися під будь-яким кутом, причому кут падіння завжди дорівнює куту відбивання. У випадку віддзеркалювання Х-променів від кристалу кут падіння теж дорівнює куту відбивання, одначе останнє можливе не під будь-яким кутом. Монохроматичний промінь з певною довжиною хвилі X відбиватиметься від серії паралельних площин кристала лише під чітко визначеними кутами; під іншими кутами промені гаситимуться.

Між кутом віддзеркалення від серії атомних площин і міжплощинною відстанню у кристалі існує залежність, відома як рівняння Вульфа—Брегга:



де п — порядок відбиття; λ, — довжина хвилі Х-променів; d — міжплощинна відстань; θ — напрям поширення розсіяних Х-променів під певним кутом стосовно атомних площин. Рівняння Вульфа—Брегга є основою для визначення параметрів елементарної комірки кристала. Наступним і найважливішим кроком у рентгеноструктурному аналізі є визначення просторового розміщення розсіювальної матерії (атомів, молекул) в елементарній комірці кристала. Ця інформація "закодована" в інтенсивностях розсіяних кристалом променів. Інтегральна інтенсивність Іhkl для будь-якого рефлекса з індексом hkl визначається як



де V — об'єм кристала; п — кількість елементарних комірок у кристалі; λ — довжина хвилі випромінювання; е2/тс2 — розсіювальна спроможність одного електрона; — множник, який характеризує геометрію зйомки кристала; Fhkl — структурна амплітуда розсіяного променя. Hа рис. 1.10 показано параметри, якими описується розсіяний кристалом Х-промінь. Абсолютне значення структурної амплітуди, отже, встановлюється експериментально на основі вимірювань інтенсивності розсіяного променя: (K — коефіцієнт приведення). |Fhkl| характеризує розсіювальну здатність електронів у заданому напрямку, які містяться в елементарній комірці кристала. Фактично абсолютне значення структурної амплітуди показує, з яких саме атомів складається елементарна комірка кристала. Інша важлива характеристика розсіяного променя — початкова фаза хвилі α — характеризує фазове зміщення хвилі стосовно початку координат, який береться у точці 0 елементарної комірки кристала (див. рис. 1.8, б). Початкову фазу хвилі стосовно точки відліку визначають математично, використовуючи статистичні методи, і значення цієї величини залежить від просторового розміщення атомів в елементарній комірці кристала.







Маючи набір значень Fhkl і аhkl для кожного розсіяного променя з індексом hkl, можна обчислити значення електронної густини ρxyz у будь-якій точці (хуz) елементарної комірки з об'ємом V:



цю формулу використовують у структурному аналізі для обчислення розподілу електронної густини в кристалі — як функції координат х, у, z. При цьому вважають, що ядра атомів містяться в центрах високої концентрації електронних згустків. Таким чином, у результаті рентгеноструктурного аналізу отримують розподіл електронної густини в кристалі. На рис. 1.11 показано фрагмент картини електронної густини для кристалів [Си2С12(СН2=СНСН2С=СС2Н5)], а на рис. 1.12 зображено елементарну комірку цього ж кристала з розміщеними в ній атомами.


Електронна та йонна мікроскопії

Хоч метод дифракції Х-променів і дає змогу визначати розташування окремих атомів у кристалі, все ж безпосередня візуалізація атомів з його допомогою неможлива. Бачити зображення індивідуальних молекул і атомів стало можливим завдяки успіхам електронної та йонної мікроскопій.

Електронний мікроскоп дає змогу бачити такі малі предмети, яких не видно у світловому мікроскопі. Так, в електронній мікроскопії зображення отримують за допомогою електронів, які проходять крізь об'єкт чи віддзеркалюються від його поверхні. Електронні пучки формуються електронно-оптичними системами з використанням магнітних луп. Зображення об'єкта фіксують на люмінесцентних екранах, фотоплівці, моніторі тощо. Магнітна лупа — це циліндрично симетричний електромагніт із дуже гострими концентричними вістрями полюсів, які створюють на малій ділянці надзвичайно сильне неоднорідне магнітне поле.





Це поле фокусує електрони, які проходять крізь цю ділянку. На рис. 1.13 показано ділянку поблизу вістря полюсів електромагніту. З точкового джерела (скупчення атомів, які розсіюють електрони) два електрони а і б поширюються під певним кутом стосовно вертикальної осі. Коли електрон а дійде до силових ліній магнітного поля, горизонтальна складова цього поля завертатиме цей електрон убік (за площину рисунка). Натомість вертикальна складова магнітного поля надаватиме електронові імпульс у напрямку вздовж вертикальної осі. Тільки-но електрон а залишить межі магнітного поля, бічний рух знімається і електрон рухатиметься по траєкторії, паралельній вертикальній осі. На частинку б діятимуть аналогічні сили. На рис. 1.13 можна також бачити, як розбіжні електрони а і б збираються в паралельний пучок. Якщо зверху помістити ще одну таку саму лупу, яка фокусуватиме ці електрони вже в одну точку, то на екрані, поставленому після цієї фокусної точки, ми матимемо збільшене зображення об'єкта — джерела електронів. Найкращі моделі сучасних електронних мікроскопів забезпечують роздільну здатність до 2 А, у приладах середнього класу роздільна здатність становить ~5 А. На рис. 1.14, а показано електронну мікрофотографію поверхні надпровідникового матеріалу, а на рис. 1.14, б — проекцію його кристалічної структури на площину хг Надзвичайно цікаві результати отримують з допомогою іншого пристрою — йонного мікроскопа. Йонний мікроскоп, який працює на принципі йонної емісії, дає змогу збільшувати зображення об'єктів у 2 000000 разів. Цей результат більш ніж удесятеро перевищує показники найкращих моделей електронних мікроскопів.



Робота йонного мікроскопа зумовлена потужними полями, які виникають навколо вістря металевої голки. Влаштований цей прилад так, як це показано на рис. 1.15. Дуже тонку голку, діаметр кінчика якої не перевищує 1000 А, поміщають у центр скляної сфери, з якої випомповують повітря. Внутрішня поверхня сфери вкрита тонким провідним шаром флуоресцентної речовини, і між голкою та флуоресцентним покриттям створюється дуже висока різниця потенціалів (20—50 кВ). Голка стосовно флуоресцентного екрана заряджена позитивно. Колбу наповнюють розрідженим гелієм (~0,005 мм рт. ст.). Тільки-но атом Гелію зіткнеться з кінчиком вістря голки, потужне поле зриває з нього електрон і атом Гелію заряджається позитивно. Далі йон Гелію рухається з прискоренням уздовж силових ліній поля, доки не поцілить в екран.



Поціливши в екран, йон Гелію викликає в цьому місці світіння. Йони, які поцілили в задану точку флуоресцентної поверхні, — це відображення поверхні кінчика голки. На рис. 1.16, а видно, які результати отримують з допомогою йонного мікроскопа, голка в якому виготовлена з Ni4Мn. Розміщення плям (світліших і темніших цяточок) на флуоресцентному екрані показує, як розташовані окремі атоми на вістрі голки. Як бачимо, окремі плями-цяточки утворюють концентричні кільця. Чому це так? Щоб це зрозуміти, спробуємо уявити собі великий ящик, ущерть заповнений кульками. В ящику кульки вкладені дуже щільно. Якщо з цього ящика виокремити приблизно сферичну частину, то побачимо картину концентричних кілець, характерну для атомної структури. На рис. 1.16, б зображено комп'ютерну модель атомної структури Ni4Мn. Світлі атоми, які утворюють концентричні кільця, містяться дещо вище поверхні кулі, утвореної атомами світло-сірого відтінку. Імовірність того, що атоми, які дещо виступають, стикатимуться з атомами Гелію частіше, є більшою. Тому вони на флуоресцентному екрані і спалахуватимуть частіше і, отже, цяточки будуть світлішими.



Отож, у середині XX ст. з допомогою йонного мікроскопа людству вперше вдалося побачити атоми. Чудове досягнення, та ще й отримане з допомогою такого простого пристрою! Тепер учені мають змогу безпосередньо бачити, яку будову мають молекули, і починають розуміти, чому речовини поводяться саме так, а не інакше.


Базові поняття атомно-молекулярного вчення

Усе, що існує довкола нас, усі предмети, які нас оточують (склянка води, шматочок скелі, крупинка кухонної солі, врешті-решт Всесвіт), усе побудоване з атомів різних хімічних елементів, кількість яких ледь перевищує сотню. До хімічних елементів належать, наприклад, атоми Гідрогену, Оксигену, Карбону, Сульфуру, Купруму тощо. Ці атоми були названі хімічними елементами тому, що їх неможливо розкласти на більш прості складові частинки шляхом нагрівання, висушування, кип'ятіння, обробкою кислотами або іншими способами, якими зазвичай користуються хіміки під час здійснення перетворень речовин. Щоправда, фізики знайшли більш ефективні методи і з допомогою потужних прискорювачів елементарних частинок можуть розщеплювати атоми хімічних елементів на електрони, протони та інші фундаментальні частинки.




Атом, молекула, йон

Атом має складну будову, він складається з центрального позитивно зарядженого ядра і негативно заряджених електронів, які компенсують заряд ядра. Належність атома до того чи іншого хімічного елемента визначається зарядом його ядра.



Хімічний елемент це вид атомів, які мають однаковий заряд ядра (протонне число) та певне середнє алгебричне значення атомної маси

Атом це найменша електронейтральна частинка хімічного елемента, яка складається з позитивно зарядженого ядра та негативно заряджених електронів і є носієм хімічних властивостей елемента.

Коли атоми взаємно наблизяться настільки, що їхні зовнішні електрони почнуть взаємодіяти між собою, то між атомами виникають значні сили притягання, які утримують їх разом хімічним зв'язком. Так виникають хімічні сполуки.



Хімічна сполука це абстрактне поняття, яке використовують для визначення речовин, у яких атоми одного або різних хімічних елементів сполучені між собою тим чи іншим видом хімічного зв'язку.

Сполука, яка утворюється поєднанням атомів одного і того ж хімічного елемента, називається простою речовиною, поєднання ж атомів різних хімічних елементів призводить до утворення складних речовин (хімічних сполук).

Наприклад, у таких простих речовин, як водень (Н2) чи кисень (02), поєднуються між собою тільки атоми Гідрогену чи тільки атоми Оксигену. У хімічній сполуці воді (Н20) — поєднуються між собою атоми Гідрогену і Оксигену, а аспірин (ацетилсаліцилова кислота) складається з атомів Карбону, Гідрогену і Оксигену. Багато речовин, як простих, так і хімічних сполук, мають молекулярну будову, тобто складаються з окремих молекул.



Молекула це найменша частинка речовини, яка складається з атомів одного або різних хімічних елементів, має сталий склад, характеризується наявністю просторово орієнтованих хімічних зв'язків і визначає фізичну й хімічну індивідуальність цієї речовини.

Однак не всі сполуки належать до молекулярних. Велика група неорганічних сполук має йонну природу, і хімічний зв'язок у таких сполуках виникає внаслідок електростатичного притягання протилежно заряджених йонів. Прикладом йонної сполуки є натрій хлорид (NaС1).



Йоном називають атом, який віддав або приєднав один чи декілька електронів і, отже, став електрозарядженим.

Якщо атом віддає електрони, то він стає позитивно зарядженим і така частинка називається катіоном, якщо ж атом приєднує електрони, він перетворюється на негативно заряджену частинку, яку називають аніоном.


Мас-спектрометрія

Маси атомів, як і їхні розміри, дуже малі, від 10-24 до 10-22 г. Замість реальних мас атомів використовують відносні атомні маси r). Раніше відносні атомні маси визначали як:

Відносна атомна маса=.

Отже, відносна атомна маса визначалась як відношення маси атома будь-якого елемента до маси атома найлегшого елемента, тобто атома Гідрогену. Аг показує, у скільки разів будь-який заданий атом важчий від атома Гідрогену. Виникає природне запитання: а яка ж маса атома Н і, взагалі, чи можна зважувати окремі атоми? Сьогодні це зробити можна. Маси атомів і молекул визначають з допомогою мас-спектрометрії. Мас-спектрометр (рис. 1.17) було розроблено англійським фізиком Ф. У. Астоном 1919 р. В основі масспектрометра лежить принцип роботи приладу Дж. Томсона для вимірювання співвідношення е/т.



У мас-спектрометрі формується потік позитивно заряджених частинок величезної енергії. Такі частинки з'являються після бомбардування струменя будь-якої газоподібної речовини електронами. Під час такого бомбардування з атомів газу вибиваються електрони. Далі в електричному полі заряджені частинки речовини розганяються до певної швидкості. Рухаючись прямолінійно, заряджені частинки потрапляють до магнітного поля. Між полюсами магніту заряджені частинки викривляють свою траєкторію певним чином, після чого їх реєструють. Величина відхилення в магнітному полі залежить від сили цього поля, а також від електричного заряду частинки, її швидкості та маси. Тоді:



де е — заряд електрона (1,60218 • 10 19 Кл, або (А • с)); Н — магнітна індукція (Вб/м2, або кг/А • с2); r — радіус кривини (м); V — напруга (кВ, або кг • м2 • 103/А • с3).

Усі ці величини, крім маси, можна зробити сталими величинами за допомогою регулюючих пристроїв приладу. Тоді величина відхилення зарядженого потоку частинок від прямолінійної траєкторії виявиться залежною лише від маси цих частинок. Визначивши величину відхилення (радіус кривини), можна визначити масу відповідних частинок. Маса атома Гідрогену (як сума мас заряджених частинок Н+ і е-), визначена мас-спектрометрично, становить На рис. 1.18 зображено мас-спектр купрум(ІІ) нітрату. Висота кожного піка вказує на кількість йонів (у відносних одиницях), які зумовлюють появу заданого піка. Відношення маса/заряд для кожного йона обчислюють за значенням прискорювальної напруги, за якою реєструється відповідний пік. Для багатьох йонів заряд дорівнює 1 елементарній одиниці заряду, і відношення маса/заряд чисельно дорівнює масі йона. Піки на записаному мас-спектрі відповідають таким йонам:



Індекс у лівому верхньому куті перед символом елемента — це так зване масове число елемента.




Поділіться з Вашими друзьями:
1   2   3   4   5   6   7

Схожі:

Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчальний посібник до змістового модулю №2 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів»

Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчальний посібник до змістового модулю №3 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів»

Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconКонтрольні роботи для студентів заочної форми навчання спеціальності «технологія парфумерно-косметичних засобів»

Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчальний посібник Для викладачів та студентів фармацевтичного факультету Запоріжжя 2014

Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчально-методичний посібник за кредитно-модульною системою для студентів вищих навчальних медичних закладів за спеціальністю «технологія парфюмерно-косметичних засобів»
Сторія україни: навчально-методичний посібник для студентів, працюючих за кредитно-модульною системою. (укладачі: кандидат історичних...
Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчально-методичний посібник для студентів І курсу факультету філології та журналістики стаціонарної форми навчання. Доп., розш. Полтава: пдпу, 2009. 61 с
Тарасова н.І.,Чередник л. А. Організація самостійної та індивідуальної роботи з античної літератури: Навчально-методичний посібник...
Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчальний посібник для студентів 5-го, 6-го курсу медичних внз, лікарів-інтернів педіатрів, інфекціоністів та сімейних лікарів Запоріжжя, 2016р
...
Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconМетодичні вказівки для студентів ІІ курсу фармацевтичного факультету для підготовки до семінарських занять з предмету
...
Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconМетодичні вказівки для студентів ІІ курсу фармацевтичного факультету для підготовки до семінарських занять з предмету
...
Навчальний посібник до змістового модулю №1 для студентів І курсу фармацевтичного факультету спеціальність «Фармація» та «Технологія парфумерно-косметичних засобів» iconНавчальний посібник для студентів гуманітарного факультету, спеціальності 029 «Інформаційна, бібліотечна та архівна справа»
Концепція професійного спрямування (Вступ до фаху) : навчальний посібник для студентів гуманітарного факультету, спеціальності 029...


База даних захищена авторським правом ©biog.in.ua 2017
звернутися до адміністрації

    Головна сторінка